JEE Main में हाईटेक नकल का खुलासा: चप्पल में छिपाया मोबाइल, परीक्षार्थी गिरफ्तार

JEE Main में हाईटेक नकल का खुलासा: चप्पल में छिपाया मोबाइल, परीक्षार्थी गिरफ्तार

छत्तीसगढ़ के दुर्ग जिले से एक चौंकाने वाला मामला सामने आया है, जहां देश की प्रतिष्ठित JEE Main परीक्षा में हाईटेक नकल करते हुए एक परीक्षार्थी को रंगे हाथों गिरफ्तार किया गया।घटना 2 अप्रैल 2026 की है, जब भिलाई-03 स्थित ION Digital Zone, पार्थिवी इंजीनियरिंग कॉलेज में परीक्षा चल रही थी। पहली पाली के दौरान परीक्षार्थी आदित्य कुमार बायोब्रेक के लिए बाहर गया और लौटने के बाद सुरक्षा जांच में संदिग्ध पाया गया।

सुरक्षा कर्मियों द्वारा मेटल डिटेक्टर से जांच करने पर चौंकाने वाला खुलासा हुआ—परीक्षार्थी ने अपनी चप्पल के अंदर विशेष रूप से जगह बनाकर मोबाइल फोन छिपा रखा था, जिससे वह परीक्षा में अनुचित लाभ लेने की कोशिश कर रहा था।मामले की गंभीरता को देखते हुए केंद्र प्रभारी की शिकायत पर पुलिस ने तुरंत कार्रवाई करते हुए आरोपी को गिरफ्तार कर लिया। आरोपी के खिलाफ छत्तीसगढ़ सार्वजनिक परीक्षा अधिनियम 2008 की धारा 09 के तहत मामला दर्ज किया गया है।

यह घटना एक बार फिर परीक्षा प्रणाली की सुरक्षा पर सवाल खड़े करती है, वहीं प्रशासन ने साफ संकेत दिए हैं कि नकल के किसी भी प्रयास को बर्दाश्त नहीं किया जाएगा।

Spread the love

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *

× How can I help you?